探針臺(tái)

探針臺(tái)是對(duì)晶圓上形成的所有芯片進(jìn)行電氣特性的測(cè)試的設(shè)備。使用這臺(tái)設(shè)備可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。

探針臺(tái)：AP3000/AP3000e
高精度、高效率、低震動(dòng)、低噪音、新一代高性能探針臺(tái)。
探針臺(tái)：UF3000EX
ACCRETECH提供的300mm旗艦版探針臺(tái)設(shè)備。
探針臺(tái)：UF3000EX-e
采用與UF3000EX同樣的基本結(jié)構(gòu)。高精度、低成本、高性能的探針臺(tái)。
探針臺(tái)：FP3000
在UF3000EX的基礎(chǔ)上制造，可對(duì)應(yīng)框架搬送的探針臺(tái)。
探針臺(tái)：UF2000
同時(shí)滿足高精度和高效率的8英寸探針臺(tái)。
探針臺(tái)：UF200R
基于UF200的概念，搭載本公司最新的軟件架構(gòu)，面向通用邏輯電路的探針臺(tái)。
探針臺(tái)：UF190R
適合測(cè)試分立器件的200mm探針臺(tái)。
開環(huán)系統(tǒng)和輕量化的Z軸系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了更高的生產(chǎn)效率。
探針臺(tái)：FP2000
在UF2000的基礎(chǔ)上制造，可對(duì)應(yīng)框架搬送的探針臺(tái)。
探針臺(tái)：UF60A
搭載圖像處理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化對(duì)齊，裝備標(biāo)準(zhǔn)上下料單元，適合測(cè)試分立器件的半自動(dòng)探針臺(tái)。
功率器件測(cè)試系統(tǒng)：Fortia
東京精密的接觸技術(shù)與株式會(huì)社TESEC 的測(cè)試技術(shù)有機(jī) 融合，形成了更廣泛的應(yīng)用，最適合功率器件的測(cè)試。
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探針臺(tái)系統(tǒng)專用網(wǎng)絡(luò)：VEGANET
提高測(cè)試產(chǎn)線效率的專用終端。
探針臺(tái)系統(tǒng)專用網(wǎng)絡(luò)：LIGHT VEGA
在客戶的主機(jī)端對(duì)各信息進(jìn)行集中管理。
探針臺(tái)系統(tǒng)專用網(wǎng)絡(luò)：GEM
基于SEMI標(biāo)準(zhǔn)建立的GEM網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)可使用于各類設(shè)備，幫助實(shí)現(xiàn)工廠自動(dòng)化生產(chǎn)。
探針臺(tái)系統(tǒng)專用網(wǎng)絡(luò)：VEGA PLANET
貢獻(xiàn)與提高測(cè)試區(qū)域的效率的專用終端群。

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探針臺(tái)

產(chǎn)品信息